fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀

簡要描述：fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀
有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2025-12-08
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價格區(qū)間	面議	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件
價格區(qū)間	面議	應(yīng)用領(lǐng)域	電子,交通,冶金,航天,汽車

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FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM®儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率，確保良好的重復精度。比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

特征：
    • 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
  • X射線探測器采用比例接收器
  • 準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
  • 基本濾片：固定或3個自動切換
  • 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
  • 固定樣品支撐臺，手動XY工作臺
  • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。
  • 設(shè)計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:
  • 大批量電鍍件測量
  • 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
  • 電鍍行業(yè)槽液分析
  • 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
  • 測量接插件和觸點的鍍層
  • 電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
  • 黃金，珠寶和手表行業(yè)

通用規(guī)格
設(shè)計用途	能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）用于確定薄涂層，小結(jié)構(gòu)，痕跡和合金。
元素范圍	氯Cl（17）至鈾U（92）–同時多達24種元素
設(shè)計理念	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由上往下
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢管
高壓	可調(diào)： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準直器）	4倍可更改：Ø0.1毫米; Ø0.2毫米 Ø0.3毫米插槽0.05毫米x 0.05毫米（其他可根據(jù)要求提供）
測量點尺寸	取決于測量距離及使用的準直器大小，實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點大?。杭s Ø0.15mm
X射線探測
X射線接收器	比例接收器
電氣參數(shù)
電源要求	AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
功率	大 120 W （不包括計算機）
保護等級:	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸	寬×深×高[mm]：570×760×650
內(nèi)部測量室尺寸	寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品大高度”部分的說明）
重量	105 kg
環(huán)境要求
使用時溫度	10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度	0°C – 50°C
空氣相對濕度	≤ 95 %，無結(jié)露
工作臺
設(shè)計	固定工作臺
Z軸行程	140 mm
可用樣品放置區(qū)	463 x 500 mm
樣品大重量	20kg
樣品大高度	140 mm

應(yīng)用實例:

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如*或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得大的信號強度。